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Co2 laser atomic force microscopy - AFM & s-SNOM

CO 2 lasers and other mid-infrared light sources are proven tools for material inspection via spectroscopic techniques, recently atomic force microscopy (AFM) and scattering scanning nearfield optical microscopy (s-SNOM) have gained traction due to their complimentary setups.These techniques can provide insight to a material’s chemical composition and optical properties while providing imaging with a spatial resolution on the scale of nanometers.


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coners, barriers

레이저 평균 출력 및 피크 파워 계산

It is easy to calculate the power or energy of optical pulses if the right parameters are known. Presented here are the relationships among some basic quantities often needed when working with laser pulses and power or energy meters.

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